eBiltegia

    • Zer da eBiltegia? 
    •   eBiltegiari buruz
    •   Argitaratu irekian zure ikerketa
    • Sarbide Irekia MUn 
    •   Zer da Zientzia Irekia?
    •   Mondragon Unibertsitatearen dokumentu zientifikoetara eta irakaskuntza-materialetara Sarbide Irekia izateko politika instituzionala
    •   Mondragon Unibertsitatearen ikerketa-datuetara Sarbide Irekia izateko Politika instituzionala
    •   Babes digitalerako jarraibideak
    •   Zure argitalpenak jaso eta zabaldu egiten ditu Bibliotekak
    • Euskara
    • Español
    • English

Laguntzailea:

  • Kontaktua
  • Euskara 
    • Euskara
    • Español
    • English
  • eBiltegia buruz  
    • Zer da eBiltegia? 
    •   eBiltegiari buruz
    •   Argitaratu irekian zure ikerketa
    • Sarbide Irekia MUn 
    •   Zer da Zientzia Irekia?
    •   Mondragon Unibertsitatearen dokumentu zientifikoetara eta irakaskuntza-materialetara Sarbide Irekia izateko politika instituzionala
    •   Mondragon Unibertsitatearen ikerketa-datuetara Sarbide Irekia izateko Politika instituzionala
    •   Babes digitalerako jarraibideak
    •   Zure argitalpenak jaso eta zabaldu egiten ditu Bibliotekak
  • Hasi saioa
Ikusi itema 
  •   eBiltegia MONDRAGON UNIBERTSITATEA
  • Ikerketa-Artikuluak
  • Artikuluak-Ingeniaritza
  • Ikusi itema
  •   eBiltegia MONDRAGON UNIBERTSITATEA
  • Ikerketa-Artikuluak
  • Artikuluak-Ingeniaritza
  • Ikusi itema
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Ikusi/Ireki
A method to extract lumped thermal networks of capacitors for reliability oriented design.pdf (3.182Mb)
Erregistro osoa
Eragina

Web of Science   

Google Scholar
Partekatu
EmailLinkedinFacebookTwitter
Gorde erreferentzia
Mendely

Zotero

untranslated

Mets

Mods

Rdf

Marc

Exportar a BibTeX
Izenburua
A method to extract lumped thermal networks of capacitors for reliability oriented design
Egilea
CABEZUELO ROMERO, DAVID
Egilea (beste erakunde batekoa)
Delmonte, Nicola
Kortabarria Iparragirre, Iñigo
Santoro, Danilo
Toscani, Andrea
Cova, Paolo
Beste instituzio
Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea (UPV/EHU)
Università degli Studi di Parma
Bertsioa
Bertsio argitaratua
Eskubideak
© 2020 Elsevier
Sarbidea
Sarbide bahitua
URI
https://hdl.handle.net/20.500.11984/6413
Argitaratzailearen bertsioa
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113737
Non argitaratua
Microelectronics Reliability  Vol. 114. N. artículo 113737, 2020
Argitaratzailea
Elsevier
Laburpena
In this work we propose a procedure based on finite element simulations to compute a lumped-parameter thermal model of capacitors. The extracted Foster or Cauer network coupled to the electrical model ... [+]
In this work we propose a procedure based on finite element simulations to compute a lumped-parameter thermal model of capacitors. The extracted Foster or Cauer network coupled to the electrical model can be useful to evaluate the temperature of capacitors in circuit simulators as SPICE or Simulink. In this way, it is possible to evaluate the expected maximum operative temperature of the capacitor embedded in a circuit before its real application, avoiding unexpected failures since the prototyping stage. Here, we describe the workflow of the method and, finally, the proposed approach will be used for designing snubber capacitors for medium power (60 kW) high frequency AC/AC converter. [-]
Bildumak
  • Artikuluak - Ingeniaritza [742]

Zerrendatu honako honen arabera

eBiltegia osoaKomunitateak & bildumakArgitalpen dataren araberaEgileakIzenburuakMateriakIkerketa taldeakNon argitaratuaBilduma hauArgitalpen dataren araberaEgileakIzenburuakMateriakIkerketa taldeakNon argitaratua

Nire kontua

SartuErregistratu

Estatistikak

Ikusi erabilearen inguruko estatistikak

Nork bildua:

OpenAIREBASERecolecta

Nork balioztatua:

OpenAIRERebiun
MONDRAGON UNIBERTSITATEA | Biblioteka
Kontaktua | Iradokizunak
DSpace
 

 

Nork bildua:

OpenAIREBASERecolecta

Nork balioztatua:

OpenAIRERebiun
MONDRAGON UNIBERTSITATEA | Biblioteka
Kontaktua | Iradokizunak
DSpace