eBiltegia

    • Zer da eBiltegia? 
    •   eBiltegiari buruz
    •   Argitaratu irekian zure ikerketa
    • Sarbide Irekia MUn 
    •   Zer da Zientzia Irekia?
    •   Mondragon Unibertsitatearen dokumentu zientifikoetara eta irakaskuntza-materialetara Sarbide Irekia izateko politika instituzionala
    •   Mondragon Unibertsitatearen ikerketa-datuetara Sarbide Irekia izateko Politika instituzionala
    •   Babes digitalerako jarraibideak
    •   Zure argitalpenak jaso eta zabaldu egiten ditu Bibliotekak
    • Euskara
    • Español
    • English

Laguntzailea:

  • Kontaktua
  • Euskara 
    • Euskara
    • Español
    • English
  • eBiltegia buruz  
    • Zer da eBiltegia? 
    •   eBiltegiari buruz
    •   Argitaratu irekian zure ikerketa
    • Sarbide Irekia MUn 
    •   Zer da Zientzia Irekia?
    •   Mondragon Unibertsitatearen dokumentu zientifikoetara eta irakaskuntza-materialetara Sarbide Irekia izateko politika instituzionala
    •   Mondragon Unibertsitatearen ikerketa-datuetara Sarbide Irekia izateko Politika instituzionala
    •   Babes digitalerako jarraibideak
    •   Zure argitalpenak jaso eta zabaldu egiten ditu Bibliotekak
  • Hasi saioa
Zerrendatu honako honen arabera: egilea 
  •   eBiltegia MONDRAGON UNIBERTSITATEA
  • Zerrendatu honako honen arabera: egilea
  •   eBiltegia MONDRAGON UNIBERTSITATEA
  • Zerrendatu honako honen arabera: egilea
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Zerrendatu honen arabera: egilea "Skocaj, Danijel"

  • 0-9
  • A
  • B
  • C
  • D
  • E
  • F
  • G
  • H
  • I
  • J
  • K
  • L
  • M
  • N
  • O
  • P
  • Q
  • R
  • S
  • T
  • U
  • V
  • W
  • X
  • Y
  • Z

Honela ordenatu:

Ordena:

Emaitzak orrialdeko:

1-tik 1-1 emaitza erakusten

  • izenburua
  • argitaratze data
  • bidalketa data
  • beherako
  • gorako
  • 5
  • 10
  • 20
  • 40
  • 60
  • 80
  • 100
    • A Methodology for Advanced Manufacturing Defect Detection through Self-Supervised Learning on X-ray Images 

      Intxausti Arbaiza, Eneko; Cernuda, Carlos; Zugasti, Ekhi (MDPI, 2024)
      In industrial quality control, especially in the field of manufacturing defect detection, deep learning plays an increasingly critical role. However, the efficacy of these advanced models is often hindered by their need ...

      Zerrendatu honako honen arabera

      eBiltegia osoaKomunitateak & bildumakArgitalpen dataren araberaEgileakIzenburuakMateriakIkerketa taldeakNon argitaratua

      Nire kontua

      SartuErregistratu

      Nork bildua:

      OpenAIREBASERecolecta

      Nork balioztatua:

      OpenAIRERebiun
      MONDRAGON UNIBERTSITATEA | Biblioteka
      Kontaktua | Iradokizunak
      DSpace
       

       

      Nork bildua:

      OpenAIREBASERecolecta

      Nork balioztatua:

      OpenAIRERebiun
      MONDRAGON UNIBERTSITATEA | Biblioteka
      Kontaktua | Iradokizunak
      DSpace